Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
ASTM E 1162
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
71.040.50 - Phương pháp vật lý hoá học của phân tích
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|