Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
ASTM F 996
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.30 - Tranzito
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|