Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS IEC 62373-1:2023
Năm ban hành 2023
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Part 1: Fast BTI test for MOSFET
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.30 - Tranzito
|
|
Số trang
Page 26
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|