Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS IEC 63068-3:2020
Năm ban hành 2020
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 3: Test method for defects using photoluminescence
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.99 - Thiết bị bán dẫn khác
|
|
Số trang
Page 28
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|