Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS IEC 63068-4:2022
Năm ban hành 2022
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence -
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|