Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS IEC 63275-1:2022
Năm ban hành 2022
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Test method for bias temperature instability -
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|