Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS ISO 12406:2010
Năm ban hành 2010
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of arsenic in silicon
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
71.040.40 - Phân tích hóa học
|
|
Số trang
Page 22
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|