Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS ISO 16413:2020
Năm ban hành 2020
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
|
|
Thay thế cho
Replace BS ISO 16413:2013
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field |
|
Số trang
Page 42
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|