Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
BS ISO 17109:2022-TC
Năm ban hành 2023
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Tracked Changes - Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films -
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|