Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
DIN EN 62374
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|