Tiêu chuẩn quốc tế
Số hiệu
Standard Number
DIN EN 62374-1
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010); German version EN 62374-1:2010 + AC:2011
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|