Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Năm ban hành 2023
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices -
|
|
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|