Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
ISO 14706
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
71.040.40 - Phân tích hóa học
|
|
Số trang
Page 25
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|