Tiêu chuẩn quốc tế
|
Số hiệu
Standard Number
ISO 17109
Năm ban hành
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực
Status |
|
Tên tiếng Anh
Title in English Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
|
|
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
71.040.40 - Phân tích hóa học
|
|
Số trang
Page 16
Giá:
Price Liên hệ / Contact us
|